Тестирование и контроль

12 февраля 2010| Тестирование и контроль

Опубликовано расширение стандарта 1149.1 JTAG

Институт IEEE опубликовал стандарт IEEE 1149.7 тестирования и отладки кристаллов. Это расширение стандарта 1149.1 JTAG, полностью совместимое с ним.

• 0
• 1
• 2
• 3
• 4
• 5

3 февраля 2010| Тестирование и контроль

Agilent объявила о прорыве в области разработки широкополосных осциллографов

В декабре 2009 года компания Agilent Technologies объявила о своей новой разработке, являющейся настоящим прорывом в области разработки широкополосных осциллографов реального времени.

• 0
• 1
• 2
• 3
• 4
• 5

26 января 2010| Тестирование и контроль

HP представила новые услуги и решения по безопасности

Компания HP представила портфель услуг безопасности и новые решения, обеспечивающие более точную оценку уязвимости, усиление защиты данных и улучшение соответствия требованиям законодательства.

• 0
• 1
• 2
• 3
• 4
• 5

26 января 2010| Тестирование и контроль

NXP и Intrinsic-ID повышают безопасность микросхем

Компании NXP и Intrinsic-ID объявили о заключении договора, предусматривающего лицензирование и внедрение встроенных аппаратных средств защиты HIS (hardware intrinsic security) в следующее поколение технологии защищенных микросхем NXP SmartMX™.

• 0
• 1
• 2
• 3
• 4
• 5

16 ноября 2009| Тестирование и контроль

Бесплатные программные средства от JTAG Technologies для отладки цифровых плат

Компания JTAG Technologies предлагает новое семейство продуктов JTAG Live™ для «прозвонки» цепей цифровых плат, которое значительно упрощает проверку, традиционно выполняемую при помощи щупов и мультиметров.

• 0
• 1
• 2
• 3
• 4
• 5

4 октября 2008| Тестирование и контроль

Создан уникальный измеритель параметров беспроводных сетей

Компания Agilent Technologies предлагает ручной измеритель параметров беспроводных сетей FieldFox - уникальное интегрированное решение для эффективного развертывания и обслуживания беспроводных сетей - тестирования кабелей и антенн в диапазоне от 2 МГц до 4/6 ГГц, анализа спектра сигналов от 100 кГц до 4/6 ГГц, векторного анализа цепей и точного измерения значений средней мощности.

• 0
• 1
• 2
• 3
• 4
• 5

1 октября 2008| Тестирование и контроль

15 октября в Москве состоится семинар «Тестирование полупроводниковых структур с помощью измерительных приборов Agilent Technologies и зондовых станций Cascade Microtech»

Компании Agilent Technologies и Cascade Microtech приглашают принять участие в 2-дневном бесплатном совместном семинаре «Тестирование полупроводниковых структур с помощью измерительных приборов Agilent Technologies и зондовых станций Cascade Microtech», который пройдет в Москве в бизнес-центре Кибмерли-Лэнд с 15 по 16 октября 2008 г.

• 0
• 1
• 2
• 3
• 4
• 5

27 сентября 2008| Тестирование и контроль

Улучшенный алгоритм для систем распознавания лиц

Система распознавания лиц – заветная мечта многих. Действительно, круг ее применений очень широк – это и поиск пропавших людей, и идентификация преступников, и опознание личностей. Еще более полезны системы распознавания образов, которые будут полезны, например, грибникам для опознавания ядовитых грибов. Однако пока технологии в этой области далеки от совершенства.

• 0
• 1
• 2
• 3
• 4
• 5

26 сентября 2008| Тестирование и контроль

Новая версия анализатора цепей серии ENA от Agilent Technologies

Приборы серии ENA компании Agilent Technologies, включая новый многопортовый измерительных блок, расширяют возможности анализа цепей до 20 ГГц.

• 0
• 1
• 2
• 3
• 4
• 5

26 сентября 2008| Тестирование и контроль

2 октября в Москве в рамках выставки Чип-Экспо пройдет семинар компании JTAG Technologies

2 октября 2008 г. в рамках выставки ЧипЭКСПО (ChipEXPO) пройдет семинар компании JTAG Technologies, посвященный практической реализации технологии периферийного (граничного) сканирования.

• 0
• 1
• 2
• 3
• 4
• 5