Вход |  Регистрация
 
 
Время электроники Воскресенье, 4 декабря
 
 


Это интересно!

Новости


Обзоры, аналитика


Интервью, презентации

Ранее

«Росэлектроника» создаст 20 научно-производственных объединений

Холдинг «Росэлектроника», входящий в госкорпорацию Ростех, реализует пятилетнюю программу реструктуризации активов, в рамках которой предусмотрено создание вместо существующих 124 предприятий 20 научно-производственных объединений (из порядка 70 организаций), проведение технико-технологической модернизации производств, а также реализация непрофильных и избыточных активов организаций.

ИРЗ успешно прошел аудит компании «Сименс»

«Сименс» оценил систему менеджмента качества Ижевского радиозавода как одну из самых зрелых среди российских поставщиков компании. Такой вывод был сделан по итогам планового аудита «Сименс», который завершился на этой неделе.

«Остек-СМТ» запустил первый в России SMD-автомат нового поколения FUJI NXT III на мощностях «Айронконн РУС»

Специалистами компании «Остек-СМТ» на производственной площадке «Айронконн РУС» завершены работы по пуско-наладке первого в России автомата установки SMD-компонентов нового поколения FUJI NXT III.

Реклама

По вопросам размещения рекламы обращайтесь в отдел рекламы

Реклама наших партнеров

 

28 апреля 2014

5 июня в Москве редакция журнала «Электронные компоненты» организует II Всероссийскую конференцию «Тестирование и испытание изделий электронной техники»

Мы приглашаем Вас и Ваших коллег принять участие в мероприятии. Конференция дает возможность ознакомиться с основными тенденциями в применении инструментов тестирования, эффективными технологиями тестирования электронных схем и оптимизации производственных процессов.

М

ногие выступления на конференции посвящены интересным нестандартным решениям компаний, производящих электронику.

На фото: I Всероссийская конференция «Тестирование и испытание изделий электронной техники» состоялась в 2013 г.

Участники конференции: разработчики и производители электронной аппаратуры, тест-инженеры, проектировщики, производители и поставщики тестового и испытательного оборудования.

Всего ожидается около 150 специалистов.

Предварительная программа

  • Обзор НТД по испытанию и тестированию изделий электронной техники (ИЭТ) на всех стадиях жизненного цикла.
  • Входной контроль компонентов и комплектующих узлов.
    · Элементы входного контроля при внутрисхемном тестировании, представитель ЗАО «Остек-Электро»
  • Механические испытания, в том числе динамические.
  • Климатические испытания.
  • Испытания на надежность.
  • Испытания на электробезопасность
  • Испытания на электромагнитную совместимость.
  • Функциональные тесты и испытания.
    · Наборы «сделай сам» для изготовления оснастки для функционального контроля, особенности проектирования спецоснастки для тестирования серийно выпускаемого изделия, представитель ЗАО «Остек-Электро»
    · Тестирование моточных изделий и электрических машин, представитель ЗАО «Остек-Электро»
    · Современные автоматы для внутрисхемного тестирования, представитель ЗАО «Остек-Электро»
  • Особенности и требования к испытанию и тестированию спецтехники, представитель ОАО «Субмикрон»
  • Электроконтроль
    · JTAG-тестирование на уровне многоплатных систем: практический опыт. Ли Виктор, НПП НТТ
    · Интеграция периферийного сканирования с другими методами структурного тестирования. Алексей Иванов, JTAG Technologies
  • Программно-аппаратные средства проведения испытаний
    · Мастер-класс по работе в бесплатной программе JTAG Live Buzz. Гиви Чхутиашвили, JTAG Technologies

Регистрация обязательная!

Для участия в конференции в качестве гостя заполните бланк заявки и направьте по факсу (495)741-7702 или электронной почтой на адрес conf@elcp.ru.

Подробную информацию об условиях участия в конференции, возможности выступления с докладом, бронирования гостиницы Вы можете получить в оргкомитете конференции:

Тел.: (495) 741-77-01, доб 2339, Контактное лицо – Гуля Фаттахова

Будем рады видеть Вас на конференции!

Скачать заявку на участие

Читайте также:
Конференция «Тестирование и испытание изделий электронной техники»
Роль тест-инженера в повышении эффективности тестирования электроники
6 июня в Москве состоится конференция «Тестирование и испытание изделий электронной техники. Проблемы качества»
Конференция «Тестирование и испытание изделий электронной техники»
Новый подход в тестировании объемных кристаллов
Разработка и тестирование современных цифровых устройств. Технология периферийного сканирования JTAG
Установки компании XYZTEC для тестирования качества соединений
Анализ и тестирование светодиодной продукции как залог ее качества

Источник: пресс-релиз

Комментарии

0 / 0
0 / 0

Прокомментировать







 
 
 




Rambler's Top100
Руководителям  |  Разработчикам  |  Производителям  |  Снабженцам
© 2007 - 2016 Издательский дом Электроника
Использование любых бесплатных материалов разрешено, при условии наличия ссылки на сайт «Время электроники».
Создание сайтаFractalla Design | Сделано на CMS DJEM ®
Контакты