22 октября 2009 г. в рамках выставки «ChipExpo-2009» компания JTAG Technologies проводит семинар на тему «Тестирование современных цифровых устройств. Технология периферийного сканирования JTAG»
Цель этого короткого семинара – обобщить возможности периферийного сканирования для инженеров среднего звена по тестированию и диагностике цифровой техники без углубления в принципы работы технологии на уровне кристалла.
Что конкретно можно протестировать на плате и с какой точностью?
Для каких частей платы генерация тестов будет автоматической, а для каких требуется ручное вмешательство?
Именно эти вопросы чаще всего интересуют инженеров, которые задумываются об использовании JTAG-тестирования.
Мероприятие является своего рода прелюдией к последующим семинарам JTAG Technologies, которые будут основываться на часто задаваемых вопросах и ответах (FAQ), полученных в процессе практической работы.
Зарегистрироваться на семинар можно на сайте выставки ChipExpo-2009 в разделе деловой программы.