Вход |  Регистрация
 
 
Время электроники Вторник, 13 ноября
 
 


Это интересно!

Новости


Обзоры, аналитика

Итоги Премии «Живая электроника России — 2018»


Интервью, презентации

Ранее

Проектирование измерительной системы для контроллера электромагнитного клапана

В статье представлен метод проектирования измерительной системы сбора данных для управления высокоэнергетическим электромагнитным клапаном. Приводится анализ применения существующих типов датчиков тока, положения и температуры, дается численная оценка внешнего магнитного поля соленоида и расчет электромагнитной совместимости. Подробно рассмотрен перспективный дистанционный магнитооптический датчик тока для силовой катушки. Представлена структурная схема измерительной системы для контроллера разрабатываемого высокоэнергетического электромагнитного клапана нового поколения.

Новый подход к тестированию конверторов со встроенным гетеродином

Обычно векторные анализаторы цепей не используются для измерения групповой задержки аналоговых спутниковых транспондеров, работающих по схеме прямой ретрансляции («прямая дыра»), хотя они и дают существенные преимущества по сравнению с методами, основанными на применении анализаторов спектра. Основная причина этого кроется в отсутствии доступа к ВЧ-тракту или опорным генераторам встроенных в транспондер гетеродинов. Статья описывает новый способ измерения групповой задержки конверторов со встроенным гетеродином с помощью анализаторов цепей Agilent PNA и PNA-X. Этот способ обладает повышенной скоростью измерения и существенно лучшей точностью по сравнению с традиционными методами.

Периферийное сканирование в жизненном цикле изделия

Журнал «Производство электроники» уже на протяжении нескольких лет публикует цикл статей, посвященный технологии граничного или периферийного сканирования. Однако сам предмет этих статей, его место на каждом этапе производственного цикла до сих пор не получил должного освещения. Исправляем ситуацию.

Реклама

По вопросам размещения рекламы обращайтесь в отдел рекламы

Реклама наших партнеров

 

3 октября

Комплексные решения по обеспечению надежности и качества изделий при производстве электроники

Обеспечение надежности изделий — сложнейшая комплексная задача, затрагивающая практически все сферы деятельности человека и включающая множество обязательных условий организационного, административного, инженерного и научного планов.



К качеству и надежности современной радиоэлектронной аппаратуры (РЭА) предъявляются очень высокие требования, независимо от их назначения: будут ли они применены в системах управления ракетами, авиационных объектах, атомных электростанциях или в телевизорах и видеомагнитофонах.

Подсчитано, что при доле дефектности партий компонентов, используемых при производстве электроники, в пределах 0,01%, то есть 100 дефектных на один миллион поставленных, процент отказов печатных плат, на которых смонтированы эти 100 компонентов, составит 9,5%. При дефектности партий компонентов в пределах 1% выход годных печатных плат составит 63,4%, то есть брак составит 36,6% [Willoughby W.I. The navy’s best practices approach to reliability. IEEE Trans. Reliab, 1987].

Однако помимо важности квалификации поступающих на производство компонентов и комплектующих не менее важно обеспечить должное качество изделия при его проектировании и выпуске. Распределение долей отказов РЭА по этапам жизненного цикла продукта выглядит примерно следующим образом:

– 80% — неправильная конструкция или ошибки конструирования;

– 15% — неправильная организация производства и технологии;

– 5% — нарушение условий эксплуатации, хранения и транспортировки.

Применив определенный комплекс инспекционных, контрольных и испытательных мероприятий для доводки конструкции и отладки технологии, можно избежать 95% брака и существенно сократить издержки, увеличив выход годных изделий и избавив себя и потребителей от большей части неприятностей, связанных с отказами при эксплуатации.

Поскольку отказы возможны даже при хорошо освоенном производстве, рекомендуется предусмотреть проведение выборочных испытаний и инспекции выпускаемых партий продукции на различных этапах процесса жизненного цикла РЭА.

В общих технических (ОТУ) и технических условиях (ТУ) обычно указывается состав обязательных видов испытаний и инспекции, их режимы и последовательность. Как правило, заводы-изготовители имеют возможность расширять или сокращать их состав в начальный период серийного производства по мере набора статистики по причинам отказов изделий.

Комплекс подобного рода мероприятий — методов и оборудования — напрямую зависит от назначения изделия, условий эксплуатации и прочих требований. Среднестатистические данные из различных источников по отказам радиоэлектронной аппаратуры по видам воздействующих факторов указаны на рисунке 1.

Рис. 1. Распределение долей отказов РЭА по видам воздействующих факторов

Максимальное приближение искусственных методов к реальной картине нагружения позволяет более точно, быстро и эффективно исследовать «слабые» места изделий. Современное оборудование позволяет как последовательно, так и одновременно воссоздавать практически все условия, которым подвергается изделие любого назначения при эксплуатации, хранении и транспортировке.

Компания ООО «Ассемрус» обеспечивает полное оснащение служб качества и производств современной электроники комплексами испытательного и инспекционного оборудования. Состав комплекса зависит от конкретной поставленной задачи и включает в себя практически все современные средства и направления обеспечения надежности и качества РЭА:

– электродинамические вибростенды (Япония);

– электромеханические вибростенды (Япония);

– ударные стенды;

– климатические камеры (Япония);

– камеры термоудара (Япония);

– камеры соли, пыли и солнечной радиации, старения (Япония);

– камеры высоты (Япония);

– установки рентгеновской инспекции (Германия);

– установки автоматической оптической инспекции (США);

– системы оценки электромагнитной совместимости (Япония);

– комбинированные установки (Япония).

Кстати, комбинированные установки, отмеченные в последнем пункте перечня (см. рис. 2), находят все большее применение благодаря своей универсальности и многофункциональности. Одновременное воздействие целого ряда факторов существенно повышает эффективность выявления скрытых дефектов и сокращает общее время испытаний.

Рис. 2. Комбинированная установка (компания EMIC Corporation, Япония). Воспроизводимые факторы воздействия: вибрация, температура, термоудар/термоциклирование, влажность

Использование комплексного воздействия позволит избежать гораздо больших издержек, нежели затраты на приобретение установки. Основные причины — увеличение выхода годных изделий и положительный экономический эффект.

Часто для определения соответствия изделий предъявляемым требованиям необходимо организовать проведение длительных испытаний для больших объемов выборок. Для подавляющего большинства изделий продолжительность такого рода испытаний составляет несколько тысяч часов. В современных условиях такой подход может оказаться совершенно неприемлемым:

– при большой длительности испытаний не обеспечивается необходимая оперативность контроля надежности изделий;

– при большой заданной вероятности безотказной работы не обеспечивается необходимая достоверность контроля и испытаний;

– резкое увеличение себестоимости из-за издержек по потреблению электроэнергии и обслуживанию испытательного оборудования;

– резкое увеличение срока выпуска изделий (до нескольких крат).

Современные методики обеспечения надежности направлены на сокращение подобных издержек. Такие методы носят название ускоренных испытаний.

Ускоренные испытания чаще всего реализуются на установках комбинированных воздействий (см. рис. 2), камерах термоудара и старения. Специалисты ООО «Ассемрус» готовы дать рекомендации по подбору оборудования для проведения ускоренных испытаний изделий.

Обеспечение надежности изделий — сложнейшая комплексная задача, затрагивающая самые разнообразные сферы деятельности человека и включающая множество обязательных условий организационного, административного, инженерного и научного планов. Обеспечение надежности изделий — залог успеха и признания. Наша задача — по возможности более полно решить задачи обеспечения надежности изделий с помощью современных испытательных средств и организации соответствующих мероприятий.



Вы можете скачать эту статью в формате pdf здесь.
Оцените материал:

Автор: Марат Кашапов, ООО «Ассемрус»; marat.kashapov@assemrus.ru



Комментарии

0 / 0
0 / 0

Прокомментировать





 

Горячие темы

 
 




Rambler's Top100
Руководителям  |  Разработчикам  |  Производителям  |  Снабженцам
© 2007 - 2018 Издательский дом Электроника
Использование любых бесплатных материалов разрешено, при условии наличия ссылки на сайт «Время электроники».
Создание сайтаFractalla Design | Сделано на CMS DJEM ®
Контакты