Вход |  Регистрация
 
 
Время электроники Среда, 13 ноября
 
 


Это интересно!

Реклама

По вопросам размещения рекламы обращайтесь в отдел рекламы

Реклама наших партнеров

 

Тестирование и контроль

40 / 129

1 |2 |3 |4

6 апреля 2010 | Тестирование и контроль

Интеграция периферийного сканирования в установку SPEA4040

Совместно с разработчиками из главного офиса SPEA в Италии специалисты JTAG Technologies разработали полноценное решение для интеграции контроллера JT37x7/TSI и ПО для выполнения приложений в установки с летающими пробниками SPEA4040.
  • 0
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


24 февраля 2010 | Тестирование и контроль

Новый стандарт IPC по очистке печатных плат

Ассоциация IPC опубликовала стандарт IPC-5704 по очистке печатных плат - важное дополнение к стандарту IPC-5702, выпущенному в июне 2007 года и описывающего факторы при выборе испытаний для оценки влияния остатков загрязнений на долговременную надежность.
  • 0
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


12 февраля 2010 | Тестирование и контроль

Опубликовано расширение стандарта 1149.1 JTAG

Институт IEEE опубликовал стандарт IEEE 1149.7 тестирования и отладки кристаллов. Это расширение стандарта 1149.1 JTAG, полностью совместимое с ним.
  • 0
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


26 января 2010 | Тестирование и контроль

NXP и Intrinsic-ID повышают безопасность микросхем

Компании NXP и Intrinsic-ID объявили о заключении договора, предусматривающего лицензирование и внедрение встроенных аппаратных средств защиты HIS (hardware intrinsic security) в следующее поколение технологии защищенных микросхем NXP SmartMX™.
  • 0
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


16 ноября 2009 | Тестирование и контроль

Бесплатные программные средства от JTAG Technologies для отладки цифровых плат

Компания JTAG Technologies предлагает новое семейство продуктов JTAG Live™ для «прозвонки» цепей цифровых плат, которое значительно упрощает проверку, традиционно выполняемую при помощи щупов и мультиметров.
  • 0
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


3 июня 2009 | Тестирование и контроль

Три новых AOI установки от Orbotech

Израильская компания Orbotech, производитель система автоматического оптического контроля (AOI), представила три новых установки.
  • 0
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


14 апреля 2009 | Тестирование и контроль

SE500 - система автоматического оптического контроля качества нанесения паяльной пасты

Компания CyberOptics на выставке APEX 2009, проходившей в Лас-Вегасе с 31 марта по 2 апреля, впервые показала свою новую систему автоматического оптического контроля качества нанесения паяльной пасты - SE500 3-D Solder Paste Inspection System.
  • 0
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


15 марта 2009 | Тестирование и контроль

Цифровая рентгеновская установка для контроля паяных соединений

Новая рентгеновская установка XD7600NT100 компании Dage имеет разрешение 0,1 мкм, комплектуется 2 Мп камерой, обеспечивает угол обзора 70° в любом месте объекта размером 406х457 мм (16х18 дюймов).
  • 85
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


28 февраля 2009 | Тестирование и контроль

Компания Koh Young представила третье поколение устройств SPI

Компания Koh Young представила третье поколение устройств контроля нанесения паяльной пасты SPI (solder paste inspection). Система aSPIre-2 разработана в ответ на требования промышленности в повышении скорости и точности контроля и представляет важное средство для оптимизации процесса.
  • 0
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


27 февраля 2009 | Тестирование и контроль

VT-X – система рентгеновского томографического контроля паяных соединений от Omron

Компания Omron представила двухрежимную систему VT-X рентгеновского контроля паяных соединений после оплавления, рассчитанную на использование в составе технологической линии.
  • 0
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


7 февраля 2009 | Тестирование и контроль

Комбинированная AOI и AXI система контроля печатных плат от Viscom

Компания Viscom предлагает комбинированную систему X7056RL автоматического оптического (AOI) и 3-D рентгеновского (AXI) контроля печатных плат больших размеров.
  • 0
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


6 февраля 2009 | Тестирование и контроль

B-52 CRET – тест на ионную чистоту и посторонние включения

Компания Practical Components предлагает набор B-52 CRET (Cleanliness & Residue Evaluation Test) для выявления и оценки ионных загрязнений в производственном процессе.
  • 0
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


13 января 2009 | Тестирование и контроль

Рентгеновская установка с переменным фокусным расстоянием

Немецкая компания Yxlon International GmbH предлагает рентгеновскую установку для цифровой радиографии и компьютерной томографии с изменяющимся размером фокусной точки. Данная установка заполняет промежуток между микрофокусными рентгеновскими аппаратами и аппаратами с обычными трубками.
  • 0
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


9 декабря 2008 | Тестирование и контроль

Agilent сократила время тестирования сигналов с часов до секунд

Компания Agilent предлагает аппаратно-программные методы контроля параметров сигналов на соответствие стандартам вместо чисто программных, что позволяет ускорить процедуру тестирования на несколько порядков. Компания разработала шаблоны сигналов (mask test) различных стандартов для осциллографов серии InfiniiVision.
  • 0
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


4 декабря 2008 | Тестирование и контроль

Mirtec обновила свой сайт

Компания Mirtec, известный производитель систем автоматического оптического контроля (AOI), обновила свой сайт, добавив в него новые информационные сервисы и службы.
  • 0
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


26 ноября 2008 | Тестирование и контроль

Компания «Совтест АТЕ» провела международный симпозиум по микроэлектронике

12 и 13 ноября компания «Совтест АТЕ» совместно с Московским государственным институтом электронной техники (МИЭТ) провела на базе института в Зеленограде международный симпозиум по новейшим достижениям в области технологий и оборудования в микроэлектронике.
  • 0
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


26 ноября 2008 | Тестирование и контроль

ООО «Совтест АТЕ» - лучший дистрибьютор фирмы Seica в 2008 году

Итальянская компания Seica назвала «Совтест АТЕ» лучшим дистрибьтором 2008 года.
  • 85
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


25 ноября 2008 | Тестирование и контроль

Оптический стереомикроскоп с «вечной» LED подсветкой

Компания Vision Engineering предлагает оптический стереомикроскоп SX45 с LED подсветкой (срок службы более 6 тыс. часов), широким диапазоном увеличений и большим рабочим расстоянием (115 мм макс).
  • 85
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


25 ноября 2008 | Тестирование и контроль

Carl Zeiss устанавливает новый рекорд разрешения микроскопов

Гелий-ионный микроскоп ORION, разработанный компанией Carl Zeiss, по техническим характеристикам превосходит все мировые аналоги – его поверхностное разрешение на различных образцах достигает 2,4 ангстрем (0,24 нм), что близко к диаметру атома. Этот показатель втрое лучше, чем у моделей электронных микроскопов с той же поверхностной чувствительностью.
  • 85
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


13 ноября 2008 | Тестирование и контроль

Philips продемонстрировала высокотехнологичную пилюлю

Компания Philips показала прототип интересного миниатюрного аппарата, который способен точно дозировать медицинские препараты и выпускать их в организм в идеально подходящий момент.
  • 0
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


13 ноября 2008 | Тестирование и контроль

Рентгеновский анализатор легких элементов с широким углом обзора

Компания Thermo Fisher, производитель приборов для научных исследований, усовершенствовала ручной рентгеновский флуоресцентный анализатор легких элементов Niton XL3t, на порядок сократив время измерение по сравнению с Si-PIN датчиками и в три раза увеличив точность по сравнению с кремниевыми дрейфовыми детекторами.
  • 0
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


7 ноября 2008 | Тестирование и контроль

Система АОК для серийного производства

Лазерная система автоматического оптического контроля Anritsu 3-D компании Seika Machinery работает с горизонтальным разрешением 10/20 мкм, вертикальным – 1 мкм, осуществляет контроль с высокой скоростью – до 33 см2/с при разрешении 20 мкм и 13.8 см2/с при 10 мкм.
  • 0
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


30 октября 2008 | Тестирование и контроль

Контроль печатных плат на соответствие RoHS/WEEE

Настольные рентгеновские системы XRF компании Matrix Metrologies предназначены для обнаружения в печатных платах и компонентах металлов, запрещенных к применению директивами RoHS/WEEE. С их помощь можно выявлять в образцах наличие свинца, ртути, хрома, кадмия и, брома.
  • 0
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


27 октября 2008 | Тестирование и контроль

Калибр для оценки AOI систем

Компания CeTaQ, занятая анализом и оптимизацией SMT производственных процессов, предлагает калибр для оценки точности установок автоматического оптического контроля (AOI), работающих в составе технологических линий.
  • 0
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


12 октября 2008 | Тестирование и контроль

Первый в отрасли тестер с OLED-дисплеем

Компания Agilent Technologies представила переносной мультиметр U1253A с дисплеем на органических светодиодах (OLED) – первый в отрасли прибор с дисплеем такого типа.
  • 0
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


11 октября 2008 | Тестирование и контроль

Оптический микроскоп с LCD экраном

Оптический микроскоп VIS-750 компании Aven предназначен для контроля печатных плат и разнообразных компонентов. Наблюдать изображение объекта можно через окуляр или на экране 8-дюймового цветного LCD дисплея, установленного на выносной консоли на уровне глаз оператора.
  • 0
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


10 октября 2008 | Тестирование и контроль

Летающие пробники для точного измерения малых сопротивлений

Сопротивление резисторов, встраиваемых в печатные платы, часто соизмеримо с сопротивлением печатных проводников (до 0.1 мОм). Для точного измерения таких сопротивлений компания atg Luther & Maelzer GmbH, совместно с Capital Equipment Group (CEG) компании Everett Charles Technologies, предлагает использовать 4-проводную схему Кельвина.
  • 0
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


26 сентября 2008 | Тестирование и контроль

20 октября в Москве пройдет семинар «Периферийное сканирование: принципы и реализация»

Компания JTAG Technologies и ЗАО «Предприятие ОСТЕК» приглашают специалистов принять участие в семинаре «Периферийное сканирование: принципы и реализация», который пройдет в Москве 20 октября 2008 г.
  • 0
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


12 сентября 2008 | Тестирование и контроль

Конвейерная установка для 3-D контроля нанесения пасты

Компания Omron Electronics предлагает установку VP5000 для трехмерного (3-D) контроля паяльной пасты в составе технологической линии.
  • 0
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


3 сентября 2008 | Тестирование и контроль

Измеритель относительной влажности

Компания Sartorius Mechatronics предлагает измеритель относительной влажности PMD300 для работы в составе технологической линии.
  • 0
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


21 августа 2008 | Тестирование и контроль

Второе поколение Condor Flying Prober

Второе поколение Condor Flying Prober (Condor500) компании Digitaltest на 30% быстрее своего предшественника. Значительно улучшено позиционирование пробников, которое теперь устанавливаются с точностью 75 мкм, а также их перемещение в вертикальном направлении (по оси Z).
  • 0
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


7 августа 2008 | Тестирование и контроль

Настольная система автоматического оптического контроля печатных плат

Компания FocalSpot предлагает настольную автоматизированную систему на основе сканера Series FA для контроля собранных печатных плат.
  • 0
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


8 июля 2008 | Тестирование и контроль

KIC расширила семейство профилометров KIC Explorer

Компания KIC, известный производитель оборудования для управления температурным профилем печей оплавления, добавила в семейство профилометров KIC Explorer новый 9-канальный прибор.
  • 0
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


4 июля 2008 | Тестирование и контроль

Рентгеновская установка для тестирования многослойных печатных плат

Компания Dage Precision на выставке Semicon West 2008 (15-17 июля 2008, Сан-Франциско) покажет установку автоматического рентгеновского контроля с новым программным обеспечением Quick View CT (computerized tomography).
  • 0
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


3 июля 2008 | Тестирование и контроль

Интеграция периферийного сканирования в тестер Agilent 3070

Компания JTAG Technologies, ведущий поставщик программно-аппаратных решений тестирования и внутрисистемного программирования на базе стандартов IEEE 1149.x, сообщает о значительном улучшении системы сканирования периферии, интегрированной в популярный тестер внутрисхемного контроля Model 3070 компании Agilent.
  • 0
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


30 июня 2008 | Тестирование и контроль

GE приобрела ведущего производителя оборудования рентгеновского контроля phoenix|x-ray

Корпорация General Electric Co. завершила поглощение немецкой компании phoenix|x-ray Systems+Services GmbH, лидирующей в сфере систем компьютерной томографии и неразрушающего рентгеновского контроля.
  • 0
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


29 июня 2008 | Тестирование и контроль

CHRocodile IT – бесконтактный измеритель толщины кремниевых пластин и пленок

Компания Precitec Optronik GmbH предлагает измерительную систему CHRocodile IT для бесконтактного измерения толщины кремниевых пластин и чипов. Особенности новой системы - бесконтактное сканирование поверхности кристалла, проведение измерений только в одной точке, измерение пластин толщиной до 1 мм.
  • 0
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


13 июня 2008 | Тестирование и контроль

X3 3D – рентгеновская установка от YESTech для контроля паяных соединений

Компания YESTech предлагает рентгеновскую установку X3 3D для контроля скрытых паяных соединений при монтаже корпусов BGA.
  • 0
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


10 июня 2008 | Тестирование и контроль

ViTiny: микроскоп, способный уместиться в кармане

Компанией 3R Systems был представлен портативный микроскоп ViTiny. Его габариты - 120x56x25 мм.
  • 0
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


4 июня 2008 | Тестирование и контроль

VK-9700 – лазерный сканирующий микроскоп от Keyence

Компания Keyence прелагает конфокальный (софокусный) лазерный сканирующий микроскоп VK-9700 с возможностью анализа цветных 3D изображений.
  • 76
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


40 / 129

1 |2 |3 |4
 

Горячие темы

 
 




Rambler's Top100
Руководителям  |  Разработчикам  |  Производителям  |  Снабженцам
© 2007 - 2019 Издательский дом Электроника
Использование любых бесплатных материалов разрешено, при условии наличия ссылки на сайт «Время электроники».
Создание сайтаFractalla Design | Сделано на CMS DJEM ®
Контакты