Вход |  Регистрация
 
 
Время электроники Пятница, 15 ноября
 
 


Это интересно!

Ранее

Инвестиции в студента — потери или приобретение?

Значительное число российских разработчиков и производителей электроники начинают заниматься повышением квалификации своих сотрудников лишь по мере возникновения необходимости. Что неминуемо приводит к необратимым потерям времени. Иной путь подготовки собственных кадров (стремясь к идеальному случаю, когда грамотный специалист должен уметь решать не только текущие, но и перспективные задачи) выбрала Санкт-Петербургская компания «Терком». В статье рассказывается об опыте взаимодействия коммерческой компании с государственным ВУЗом.

Кадры решают все!

В статье приведен пример успешной адаптации на российском рынке зарубежного курса повышения квалификации специалистов в области технологии сборки электронных блоков. Особую ценность программе курса MYSMT придает то, что обучение проводится без «привязки» к конкретному оборудованию какой-либо фирмы-поставщика.

Зарплаты в российской электронике: где стоит работать?

В статье сравнивается уровень заработной платы в государственных и частных компаниях электронной отрасли. Если в государственном секторе зарплата в лучшем случае соответствует прожиточному минимуму, то в частных предприятиях зарплаты зачастую приближаются к уровню западных стран. Какие факторы сегодня влияют на рост зарплат, как стимулировать приток свежих кадров — вопросы, поднятые в статье, лягут в основу специального исследования, которое мы опубликуем в следующем тематическом номере «Производства электроники», посвященного подготовке кадров.

 

15 марта

Качество начинается с входного контроля

Системы обеспечения качества на каждом предприятии имеют свои нюансы. Однако без входного контроля комплектующих не рискует обойтись ни один производитель электроники. В статье рассказывается об одном из передовых методов входного контроля электрорадиоэлементов, удачно сочетающем универсальность и небольшую стоимость — о сигнатурном анализе.





Вы можете скачать эту статью в формате pdf здесь.

Скрыть/показать html версию статьи
background image
ПРОИЗВОДСТВО ЭЛЕКТРОНИКИ: ТЕХНОЛОГИИ, ОБОРУДОВАНИЕ, МАТЕРИАЛЫ
59
№ 3, 2008
контроль и тестирование
Системы обеспечения качества на каждом предприятии имеют свои нюансы. Однако без входного контроля ком-
плектующих не рискует обойтись ни один производитель электроники. В статье рассказывается об одном из передо-
вых методов входного контроля электрорадиоэлементов, удачно сочетающем универсальность и небольшую стои-
мость — о сигнатурном анализе.
Входной контроль компонентов
является неотъемлемой частью обе-
спечения качества продукции в про-
изводстве электроники. С повышени-
ем уровня сложности производимых
изделий увеличивается уровень от-
ветственности компонента в изделии.
Особенно важна 100% исправность
комплектующих при сборке ответ-
ственных узлов управляющих систем,
когда
неисправность
какой-либо
одной детали может повлечь за собой
выход из строя других деталей, узлов, а
возможно и всего комплекса в целом.
Проведение входного контроля
необходимо для любых типов компо-
нентов, начиная с резисторов и закан-
чивая интегральными микросхемами
(ИМС).
Очень важно на этапе входного
контроля оценить работоспособность
ИМС. На сегодняшний день ассор-
тимент выпускаемых микросхем ТТЛ
и КМОП-логики настолько велик,
что самым доступным решением при
тестировании ИМС является уни-
версальное устройство, позволяющее
проводить проверку большого коли-
чества элементов.
Ольга Хмелевская
, инженер-конструктор службы тестового оборудования ООО «Совтест АТЕ»
качество начинается с входного контроля
Рис. 1. Локализатор неисправностей
SFL 3000
Рис. 2. Локализаторы неисправностей SFL 1500, SFL 2500, SFL 3000
Как правило, для контроля инте-
гральных микросхем требуется обо-
рудование, выполняющее функцио-
нальную проверку параметров на
соответствие таблице истинности.
При большой номенклатуре про-
веряемых ИМС подобные тестеры
являются дорогостоящими, кроме
того, достаточно трудоемким явля-
ется процесс написания тестовых
программ.
Обычно производители электро-
ники на входном контроле ограни-
чиваются визуальным осмотром и
инструментальным контролем геоме-
трии микросхем.
Однако, при отсутствии внешних
повреждений корпуса и соответ-
ствии чертежам, могут присутство-
вать дефекты ИМС, выявляемые
лишь тестированием компонента.
При проведении тестирования ин-
тегральной микросхемы ее серия и
тип известны, и микросхема счи-
тается исправной при условии со-
ответствия всех контролируемых
входных и выходных сигналов для
данной ИМС нормативным требо-
ваниям ТУ.
Статистические данные говорят
о том, что на практике до 80% де-
фектов ИМС, выявленных на вход-
ном контроле — это повреждения
входных/выходных каскадов интег-
ральных
микросхем,
вызванные
«пробоем» защитных диодов, либо
отсутствием связи между кристал-
лом и выводом ИМС. Поэтому для
отбраковки микросхем на входном
контроле наиболее доступным реше-
нием являются комплексы, анализи-
рующие входные/выходные каскады
(см. рис. 1).
Метод аналого-сигнатурного ана-
лиза (ASA), заключающийся в сравне-
нии вольтамперной характеристики
тестируемого компонента с эталон-
ной, является универсальным методом
для диагностики радиокомпонентов,
в том числе интегральных микросхем.
Метод ASA позволяет наглядно пред-
ставить состояние компонента, в том
числе полупроводников.
Оборудование, в основу рабо-
ты которого положен метод ASA,
разработано специалистами пред-
приятия ООО «Совтест АТЕ» и
представлено на российском рынке
тестово-диагностического оборудо-
вания в виде целого модельного ряда
локализаторов неисправностей (см.
рис. 2).
Приборы разработаны с целью
максимального удовлетворения по-
требностей заказчиков и рассчитаны
на широкий круг потребителей. Раз-
личное конструктивное исполнение и
различные возможности локализато-
ров неисправностей позволяют пред-
ставить приборы в нескольких цено-
вых категориях.
Суть метода аналогового сиг-
натурного анализа (ASA), который
иногда называют VI (напряжение —
ток), заключается в том, что прибор
выводит на экран ПК вольтамперную
background image
Тел.: (495) 741-77-01
60
www.elcp.ru
контроль и тестирование
Рис. 5. Сигнатура ИМС 74LS00 с «обрывом»
между кристаллом и выводом микросхемы
(диапазон напряжений LOW, частотный
диапазон 50Гц, щупы подключены ко входу
и общему выводу)
характеристику (сигнатуру) анали-
зируемой цепи, которая сравнивает-
ся с эталонной. Эталонная сигнатура
может быть получена от исправного
компонента из электронной библио-
теки компонентов, либо из альбома
эталонных сигнатур, поставляемого
с прибором. Отличие сигнатур го-
ворит о неисправности. Сравнение
сигнатур выполняется автоматиче-
ски, т.е. прибор сообщает результат
сравнения (ГОДЕН/НЕ ГОДЕН).
Порог различия (допуск) сигнатур
задается оператором, что позволяет
устанавливать любую глубину срав-
нения.
При тестировании компонентов
до монтажа на плату используется
ZIF-колодка с «нулевым усилием».
Возможно изготовление специализи-
рованной оснастки с учётом особен-
ностей корпуса элемента.
Поскольку входной/выходной
кас кад ИМС сформирован полупро-
водниковым элементом (диодом или
транзистором), то для исправного
компонента будет получена сигнату-
ра, характерная для диода (см. рис. 3).
При «пробое» входного каскада
мы будем наблюдать сигнатуру, ха-
рактерную для обычного резистора
(см. рис. 4).
При отсутствии связи кристалла с
выводом ИМС на экране будет гори-
зонтальная линия (см. рис. 5).
Сигнатуры являются уникальны-
ми для каждого типа логики ТТЛ или
КМОП, а также могут быть различны
для ИМС разных производителей и
даже разных партий. Поэтому для под-
тверждения типа ИМС необходимо
использовать в качестве эталона хотя
бы одну, заведомо годную, микросхе-
му из партии.
Достоинства применения метоДа
ASA
1. Автоматизация. Прибор обе-
спечивает автоматическое сравнение
проверяемого модуля с эталонным и
сообщает результат тестирования ГО-
ДЕН/НЕГОДЕН.
2. Универсальность. Позволяет ди-
агностировать любые виды электрон-
ных компонентов.
3. Простота в освоении и эксплуа-
тации. Поиск неисправностей может
осуществлять персонал со средней
квалификацией.
4. Безопасность тестирования. Те-
стирование производится без под-
ключения питания к проверяемым и
эталонным компонентам.
Приборы имеют несколько режи-
мов работы.
В режиме реального времени (не-
посредственного сравнения) прибор
сравнивает два одинаковых устрой-
ства — эталонное и тестируемое, а
результат тестирования выводится на
монитор ПК.
В режиме быстрого тестирования
прибор тестирует многовыводные
компоненты (в основном разъемы
и ИМС), используя 128-канальный
мультиплексор. По каждому каналу
последовательно опрашивается со-
стояние всех выводов тестируемого
устройства относительно общего,
оценивается
совпадение/несовпа-
дение сигнатур в заданном поле до-
пуска. Результат тестирования выво-
дится на экран монитора с указанием
дефектного вывода. Для контактиро-
вания с выводами ИМС используют-
ся тестовые клипсы, изготавливаемые
для любых типов корпусов микро-
схем. Набор эталонных сигнатур для
микросхемы необходимо сохранить в
Рис. 3. Сигнатура исправной ИМС 74LS00
(диапазон напряжений LOW, частотный
диапазон 50 Гц, щупы подключены ко
входу и общему выводу)
Рис. 4. Сигнатура ИМС 74LS00 с
«пробитым» входным каскадом
(диапазон
напряжений LOW, частотный диапазон
50 Гц, щупы подключены ко входу и
общему выводу)
памяти ПК, присвоив соответствую-
щее имя, и использовать для тестиро-
вания целой партии, формируя, та-
ким образом, собственную картотеку
компонентов.
В режиме программирования при-
бор производит проверку проверяе-
мого изделия по заданной программе
тестирования. Оператор устанавлива-
ет пробники согласно командам про-
граммы, а сравнение сигналов вы-
полняется прибором автоматически.
Наличие файла эталонных сигнатур
позволяет обойтись при тестировании
без использования второго (эталонно-
го) устройства.
возможности интерфейса
1. Отображение информации. Вы-
вод аналоговых сигнатур в графиче-
ском виде на экран ПК с указанием
дефектного вывода ИМС (см. рис. 6).
2. Хранение информации. Создание
электронных библиотек, содержащих
эталонные сигнатуры (вольтамперные
характеристики) с возможностью хра-
нения на жестком диске управляюще-
го ПК (см. рис.7).
3. Автоматическое сравнение тести-
руемого компонента с эталонным, вы-
вод информации о пригодности тести-
руемого элемента (см. рис.8).
Анализ сигнатур позволяет оце-
нить все типы элементов: аналоговые,
цифровые, электромеханические и
т.д. Например, большинство дефектов
цифровых микросхем проявляется
изменением характеристик входных/
выходных каскадов, обрывами или
утечками, а неисправность трансфор-
матора или электродвигателя выра-
жается в изменении сигнатуры вслед-
ствие изменения сопротивления или
индуктивности обмотки. Кроме того,
background image
ПРОИЗВОДСТВО ЭЛЕКТРОНИКИ: ТЕХНОЛОГИИ, ОБОРУДОВАНИЕ, МАТЕРИАЛЫ
61
№ 3, 2008
контроль и тестирование
Рис. 8. Вывод информации о пригодности тестируемого элемента
Рис. 7. Созданные библиотеки эталонных сигнатур могут храниться на жестком диске
Рис. 6. Отображение аналоговых сигнатур с указанием дефектного вывода ИМС
ASA — зачастую единственный спо-
соб проверки неизвестных заказных
микросхем.
Приборы успешно прошли ис-
пытания на предприятии, а также
в независимой лаборатории на со-
ответствие требованиям ГОСТ Р
(Сертификат соответствия №РОСС
RU.TH02.B02909). Отработанный
технологический процесс изготов-
ления приборов наряду с обязатель-
ным пооперационным тестировани-
ем на всех этапах его производства
и заключительными испытаниями
на устойчивость к климатическим
и механическим воздействиям обе-
спечивают высочайшее качество на-
ших локализаторов неисправностей.
Таким образом, поддерживается наш
девиз «Совтест — Ваш партнер по
качеству!»
По всем вопросам, касающимся
данного оборудования, вы можете об-
ратиться к менеджерам ООО «Совтест
АТЕ».
P.S. Область использования при-
бора не ограничивается описанным в
настоящей статье методом примене-
ния. Прибор может быть использован
производителями электроники и сер-
висными центрами для поиска неис-
правностей в электронных модулях на
компонентном уровне.
Контактная информация:
ООО «Совтест АТЕ»
Россия, 305000, г. Курск,
ул. Володарского, 49
Тел.: (4712) 54 54 17
Факс: (4712) 56 35 50
Москва: (495) 231 35 63
С-Пб: (812) 740 71 42
E-mail: info@sovtest.ru
www.sovtest.ru , http://wires.sovtest.ru
background image
Тел.: (495) 741-77-01
62
www.elcp.ru
контроль и тестирование
новости рынка
JTAG Technologies BV, мировой лидер и новатор в области
граничного сканирования (стандарт IEEE 1149.1), поставщик
широкой гаммы программного обеспечения и аппаратных
средств для тестирования, анализа результатов испытаний
и внутрисистемного программирования — продемонстриро-
вал свои новейшие решения на выставке «ЭкспоЭлектро-
ника-2008», проходившей в апреле в Москве, где собрались
ведущие поставщики высокотехнологичной продукции. Меро-
приятия были нацелены на развитие сотрудничества и диалога
между компанией и клиентами.
«ЭкспоЭлектроника» — идеальная площадка для демон-
страции всего уникального спектра продукции JTAG», — гово-
рит управляющий директор компании Питер ван ден Эйнден
(Peter van den Eijnden). «JTAG Technologies с 1993 г. ведет раз-
работки комплексных решений, которые позволяют преодо-
леть сегодняшние проблемы проектирования, изготовления
и тестирования продукции, а также поставлять технологиче-
ски совершенные изделия на рынки быстрее и эффектив-
нее конкурентов. JTAG Technologies удалось стать лидером в
области этих технологий, и за последние 15 лет мы создали
весьма успешный бизнес, предоставляя решения и поддерж-
ку клиентам по всему миру. В этом году мы сосредотачиваем
деятельность на расширение бизнеса в России. Это позволит
нам внести свой вклад и получить отдачу от удовлетворения по-
требностей быстро растущей российской промышленности.
Ведь на всем пути развития электронной промышленности
производители постоянно вынуждены применять самые новые
устройства и технологии для того, чтобы повысить функцио-
нальность изделий и степень их миниатюризации».
О JTAG Technologies
JTAG Technologies является лидером и новатором в обла-
сти программного обеспечения и аппаратных средств для гра-
ничного сканирования. Компания первой обратила внимание
рынка на такие ключевые технологии, как автоматическая ге-
нерация тестов, автоматизированный анализ ошибок, автома-
тизированное программирование флэш-памяти и ПЛМ через
граничное сканирование и визуализацию результатов гранич-
ного сканирования. Клиентами компании являются мировые ли-
деры в области проектирования и изготовления электроники,
такие как Ericsson, Flextronics, Honeywell, Medtronic, Motorola,
Nokia, Philips, Raytheon, Rockwell-Collins, Samsung и Sony. Но-
ваторские продукты компании в области граничного сканиро-
вания обеспечивают подготовку и проведение тестирования,
анализ его результатов и внутрисистемное программирование
устройств. Более 5000 установленных по всему миру систем
JTAG Technologies работают на предприятиях по выпуску обо-
рудования связи, медицинской электроники, авионики, обо-
ронной, автомобильной и бытовой техники. Штаб-квартира
компании расположена в Эйндховене (Нидерланды).
www.jtag-technologies.ru
JTAG Technologies: новый русскоязычный веб-сайт и мероприятия
на «Экспо
э
лектронике-2008»
новости технологий
Новый тестер с подвижными щупами Pilot V8
Это новейшее дополнение к полной линии тестовых систем
Seica представляет собой радикальный отход от традиционной
концепции систем с подвижными щупами. Pilot V8 вобрал в себя
важнейшие технологические инновации в области двусторон-
него тестирования подвижными щупами: его уникальность за-
ключается в вертикальном построении, которое обеспечивает
высокую скорость и точность работы по обе стороны платы,
предлагая максимальные возможности тестирования и гиб-
кость в компактном, очень эргономичном корпусе. Установка
оснащена восемью подвижными щупами для электрических ис-
пытаний (по четыре с каждой стороны), двумя щупами Openfix
и двумя щупами подачи питания, а также двумя ПЗС-камерами
(по одной на каждую сторону). Таким образом, Pilot V8 имеет
14 подвижных устройств для тестирования, покрывающих все
потребности в электрическом и функциональном тестирова-
нии. Кроме того, подобно другим решениям Seica с подвиж-
ными пробниками, Pilot V8 могут также осуществить серию
«цепь-ориентированных» измерений, основанных на контроле
откликов заданных цепей. Эти новые методы испытаний позво-
ляют значительно сократить время, необходимое для полного
тестирования, за счет уменьшения числа измерений при со-
хранении прежнего объема охвата возможных неисправностей
и важной диагностической информации. Подвижные щупы для
подачи питания являются еще одним важным новшеством, ко-
торое позволило запитывать тестируемый узел без дополни-
тельных фиксированных кабелей.
И, наконец, Pilot V8 способен одновременно выполнять ис-
пытания сразу двух объектов контроля, что фактически удваи-
вает производительность тестовой системы.
Pilot V8, как и вся продукция Seica, основан на платформе
Seica VIPT с фирменным программным обеспечением VIVA,
которое позволяет оптимизировать время разработки тест-
программ, испытаний и обнаружения неисправностей, про-
водя пользователя через последовательность автоматизи-
рованных операций в интуитивно понятном интерфейсе. Это
сокращает времени программирования и практически устра-
няет возможность возникновения ошибок и упущений.
Система выборочной пайки Firefly
Другое инновационное решение, показанное Seica на вы-
ставке — система Firefly («Светлячок») вобрало всю мощь и
точность лазерных технологий, призванных автоматизиро-
вать процесс выборочной пайки электронных плат и модулей.
«Светлячок» работает под управлением простого в использо-
вании фирменного программного обеспечения VIPT с нова-
торским интерфейсом, позволяющим значительно сократить
время подготовки программ пайки. Благодаря совместимости
с конвейерными системами SMEMA «Светлячок» легко может
быть встроен в полностью автоматизированную производ-
ственную линию. Сложные алгоритмы и быстрый контроль ре-
зультатов пайки помогают обеспечить высокое качество пай-
ки и повторяемость. Тепловой контроль, столь необходимый в
процессе пайки, обеспечивается комплексной системой кон-
троля температуры, которая обеспечивает непрерывную об-
ратную связь в ходе пайки и отображает тепловые профили
в реальном времени, а также хранит профили и изображения
каждой точки пайки, обеспечивая полный контроль процесса
пайки.
О компании Seica
Основанная в 1986 г., Seica SpA является мировым по-
ставщиком автоматического тестового оборудования и си-
стем селективной пайки. По всему миру установлено более
800 систем Seica. Компания поставляет полностью автомати-
зированные лазерные системы селективной пайки, а также
полную линейку тестовых решений, как с фиксированными
пробниками типа «ложе йога», так и с подвижными («летаю-
щими») щупами, способные проводить электрический, функ-
циональный и визуальный контроль электронных изделий.
Штаб-квартира компании находится в Страмбино (Италия);
представительства компании имеются в Париже (Франция),
Салеме (США) и Сучжоу (Китай); по всему миру развернута
широкая дистрибьюторская сеть.
www.seica.com
Seica SpA продемонстрировала новые тестовые системы и
производственные решения на выставке «Экспоэлектроника-2008»
Оцените материал:

Автор: Ольга Хмелевская, инженер-конструктор службы тестового оборудования ООО «Совтест АТЕ»



Комментарии

0 / 0
0 / 0

Прокомментировать





 

Горячие темы

 
 




Rambler's Top100
Руководителям  |  Разработчикам  |  Производителям  |  Снабженцам
© 2007 - 2019 Издательский дом Электроника
Использование любых бесплатных материалов разрешено, при условии наличия ссылки на сайт «Время электроники».
Создание сайтаFractalla Design | Сделано на CMS DJEM ®
Контакты