Вход |  Регистрация
 
 
Время электроники Понедельник, 27 января
 
 

Это интересно!

Новости

Приглашение к участию в ежегоднике «Живая Электроника России» 2020


Обзоры, аналитика


Интервью, презентации

Ранее

Программы ГС-тестирования современных печатных плат в примерах

В девятой статье цикла «Основы технологии граничного сканирования и тестопригодного проектирования» вниманию читателей предлагаются примеры построения фрагментов программ ГС-тестирования кластеров, призванные расширить представления тест-инженеров о возможностях технологии граничного сканирования и еще раз обратить их внимание на особую важность всех аспектов тестопригодного проектирования.

Установки компании XYZTEC для тестирования качества соединений

В статье описываются установки компании XYZTec для выполнения тестирования на сдвиг кристалла и тестирования на отрыв и сдвиг проволочных соединений.

Без права на ошибку

В статье рассматриваются вопросы электрического контроля изделий электронной техники с повышенными требованиями к надежности. Приводятся примеры применения к условиям современного производства.

 

25 июня

Миниатюрнее, быстрее, качественнее. Часть 2

В первой части статьи, опубликованной в «Производстве электроники» №2, 2009, были рассмотрены общие качест­венные показатели систем автоматической оптической инспекции (AOI) компании Mirtec. В заключительной части статьи можно познакомиться с параметрами и преимуществами конкретных установок.

Статья опубликована в журнале "Производство Электроники" №3 за 2009 год.

Купить доступ к материалу

Оцените материал:

Автор: Сергей Андреянов, ООО «ЛионТех»



Комментарии

0 / 0
0 / 0

Прокомментировать





 

Горячие темы

 
 




Rambler's Top100
Руководителям  |  Разработчикам  |  Производителям  |  Снабженцам
© 2007 - 2020 Издательский дом Электроника
Использование любых бесплатных материалов разрешено, при условии наличия ссылки на сайт «Время электроники».
Создание сайтаFractalla Design | Сделано на CMS DJEM ®
Контакты