Вход |  Регистрация
 
 
Время электроники Вторник, 21 февраля
 
 


Это интересно!

Новости


Обзоры, аналитика


Интервью, презентации

Реклама

По вопросам размещения рекламы обращайтесь в отдел рекламы

Реклама наших партнеров

 

Тестирование и контроль

2 / 2

1 октября 2008 | Тестирование и контроль

15 октября в Москве состоится семинар «Тестирование полупроводниковых структур с помощью измерительных приборов Agilent Technologies и зондовых станций Cascade Microtech»

Компании Agilent Technologies и Cascade Microtech приглашают принять участие в 2-дневном бесплатном совместном семинаре «Тестирование полупроводниковых структур с помощью измерительных приборов Agilent Technologies и зондовых станций Cascade Microtech», который пройдет в Москве в бизнес-центре Кибмерли-Лэнд с 15 по 16 октября 2008 г.
  • 0
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


26 сентября 2008 | Тестирование и контроль

2 октября в Москве в рамках выставки Чип-Экспо пройдет семинар компании JTAG Technologies

2 октября 2008 г. в рамках выставки ЧипЭКСПО (ChipEXPO) пройдет семинар компании JTAG Technologies, посвященный практической реализации технологии периферийного (граничного) сканирования.
  • 0
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5


2 / 2

 

 
 




Rambler's Top100
Руководителям  |  Разработчикам  |  Производителям  |  Снабженцам
© 2007 - 2017 Издательский дом Электроника
Использование любых бесплатных материалов разрешено, при условии наличия ссылки на сайт «Время электроники».
Создание сайтаFractalla Design | Сделано на CMS DJEM ®
Контакты