Вход |  Регистрация
 
 
Время электроники Среда, 19 июня
 
 


Это интересно!

Новости


Обзоры, аналитика


Интервью, презентации

Ранее

Улучшенный алгоритм для систем распознавания лиц

Система распознавания лиц – заветная мечта многих. Действительно, круг ее применений очень широк – это и поиск пропавших людей, и идентификация преступников, и опознание личностей. Еще более полезны системы распознавания образов, которые будут полезны, например, грибникам для опознавания ядовитых грибов. Однако пока технологии в этой области далеки от совершенства.

Новая версия анализатора цепей серии ENA от Agilent Technologies

Приборы серии ENA компании Agilent Technologies, включая новый многопортовый измерительных блок, расширяют возможности анализа цепей до 20 ГГц.

2 октября в Москве в рамках выставки Чип-Экспо пройдет семинар компании JTAG Technologies

2 октября 2008 г. в рамках выставки ЧипЭКСПО (ChipEXPO) пройдет семинар компании JTAG Technologies, посвященный практической реализации технологии периферийного (граничного) сканирования.

 

1 октября

15 октября в Москве состоится семинар «Тестирование полупроводниковых структур с помощью измерительных приборов Agilent Technologies и зондовых станций Cascade Microtech»

Компании Agilent Technologies и Cascade Microtech приглашают принять участие в 2-дневном бесплатном совместном семинаре «Тестирование полупроводниковых структур с помощью измерительных приборов Agilent Technologies и зондовых станций Cascade Microtech», который пройдет в Москве в бизнес-центре Кибмерли-Лэнд с 15 по 16 октября 2008 г.

К

омпании Agilent Technologies и Cascade Microtech приглашают принять участие в 2-дневном бесплатном совместном семинаре «Тестирование полупроводниковых структур с помощью измерительных приборов Agilent Technologies и зондовых станций Cascade Microtech», который пройдет в Москве в бизнес-центре Кибмерли-Лэнд с 15 по 16 октября 2008 г.

Цель семинара - познакомить слушателей с новыми решениями Agilent Technologies и Cascade Microtech в области тестирования полупроводниковых приборов. Кроме того, участникам семинара будет предоставлена уникальная возможность обучения работе с параметрическим анализатором Agilent B1500A и зондовой станцией Cascade M150.

Параметрический анализатор Agilent B1500A с программным обеспечением EasyEXPERT предназначен для комплексных измерений вольтамперных (IV) и вольтфарадных (CV) характеристик, импульсных измерений и испытаний на надежность. Модульная конструкция прибора позволяет сконфигурировать его под конкретные потребности заказчика и добиться наилучшего сочетания стоимости и технических характеристик.

Новые модули для Agilent B1500A расширяют возможности прибора по решению современных задач полупроводникового анализа. Так, например, новый модуль генератора импульсов обеспечивает непрерывное воспроизведение сигналов произвольной формы в течение сотен тысяч циклов без программирования, модуль высокоскоростных IV измерений - возможность синхронной генерации сигналов произвольной формы для проведения импульсные IV измерений, измерений 1/f шума (RTS) и NBTI испытаний на надежность.

Компания Cascade Microtech является мировым лидером в области разработки и производства зондовых станций для тестирования интегральных схем на этапе полупроводниковых пластин, микросхем в корпусе, печатных плат, электрооптических, биологических структур и пр. Зондовая станция Cascade M150 во многих случаях является неотъемлемым частью системы при проведении измерений на полупроводниковых пластинах.

Программа семинара:

15 октября

  • обзор программных и аппаратных возможностей B1500A (Agilent Technologies);
  • обзор решений по CV и импульсным измерениям, тестированию памяти (Agilent Technologies);
  • обзор систем параметрического тестирования Agilent серий 4070/4080 (Agilent Technologies);
  • параметрические DC измерения на полупроводниковой пластине (Cascade Microtech);
  • измерение параметров мощных полупроводниковых приборов (Cascade Microtech);
  • обучение продвинутым приемам работы на B1500A и зондовой станции (Cascade Microtech).

 16 октября

  • измерение S-параметров на полупроводниковой пластине (Cascade Microtech);
  • решения для измерения «розового» (1/f) шума  (Cascade Microtech);
  • CV измерения в диапазоне от 0 до 110 МГц (Agilent Technologies);
  • применение IC-CAP для экстракции параметров и моделирования полупроводниковых устройств (Agilent Technologies);
  • измерения в ВЧ диапазоне с помощью анализаторов цепей (Agilent Technologies);
  • обучение продвинутым приемам работы на B1500A и зондовой станции (Agilent Technologies).

В семинаре примут участие ведущие технические специалисты компаний Agilent Technologies и Cascade Microtech.

Получить дополнительную информацию и зарегистрироваться на семинар можно на Email (до 10 октября 2008 г.).

Внимание! Количество мест на семинаре строго ограничено!

Оцените материал:

ee

Комментарии

0 / 0
0 / 0

Прокомментировать







 

Горячие темы

 
 




Rambler's Top100
Руководителям  |  Разработчикам  |  Производителям  |  Снабженцам
© 2007 - 2019 Издательский дом Электроника
Использование любых бесплатных материалов разрешено, при условии наличия ссылки на сайт «Время электроники».
Создание сайтаFractalla Design | Сделано на CMS DJEM ®
Контакты