![]() |
|
||||||||||||
![]() Это интересно!Новости Глава Intel поведал, как корпорация докатилась до такого Корейцы впечатали суперконденсатор внутрь контактных линз для беспроводной зарядки Intel «пугает» грандиозными планами по новым техпроцессам до 1,4 нм «Но вы держитесь!»: власти оставят россиян без дешевой электроники из Китая
РанееФорум SEMICON Russia достиг своего пикаС 13 по 15 мая 2014 г. в Москве прошел крупнейший международный Форум SEMICON Russia 2014, посвященный развитию полупроводниковой и микроэлектронной промышленности в России. Пять мифов об облакахКогда на рынок выводятся новые продукты и технологии, клиенты, как правило, скептически их воспринимают и не верят на слово рекламе, в которой обычно используются превосходные степени: "самые быстрые", "самые эффективные", "экономичные" и проч. Так было со многими продуктами, так же происходит и с облаками. Миллиарды для смарт-оружияВ России пытаются излечить немощь электроники. СсылкиРекламаПо вопросам размещения рекламы обращайтесь в Реклама наших партнеров |
18 июня II-я Всероссийская конференция «Тестирование и испытание изделий электронной техники»Конференция, организованная нашей медиагруппой «Электроника», прошла в 5 июня Москве.К
ак и первая конференция, состоявшаяся год назад, нынешняя вызвала живой интерес. В прошлом году в программе преобладали доклады, посвященные граничному сканированию, многие доклады касались технологий JTAG.
На этот раз акцент был сделан на входной контроль. Учли мы и специфику отечественного рынка электроники – в программе конференции нашлось место для двух докладов компании ОАО «Российские космические системы», а также докладу об испытании на радиационную стойкость. Однако и о JTAG мы не забыли. Два последних доклада сделали представители этой компании.
Если очень кратко подвести итоги конференции, то, пожалуй, их можно выразить следующим образом: «Контроль, контроль и еще раз контроль на всех стадиях производственного процесса». Не существуют компонентов со 100-% надежностью, следовательно, невозможно изготавливать конечные изделия со 100-% качеством, без брака. Важно уметь вовремя обнаружить брак, чтобы он не распространился дальше по конвейеру.
И методов обнаружения брака в настоящее время немало, начиная с определения ненормируемых производителем параметров, например паразитных входных емкостей или падения напряжения на защитных входных диодах микросхемы, и заканчивая термоциклированием и форсированными испытаниями.
В докладах говорилось и об аппаратных средствах испытаний изделий. В этом отношении к услугам производителей немало интересного – от уже привычных летающих иголок до функциональных тестеров электронных компонентов и от электромеханических реле и моточных компонентов до сложных микросхем (ПЛИС и микроконтроллеров).
И наконец, JTAG. Поскольку технологии граничного сканирования прочно вошли в повседневную жизнь, доклады о новинках этого направления всегда актуальны. На этот раз помимо доклада о возможностях технологии был проведен небольшой мастер-класс по работе в бесплатной программе JTAG Live Buzz. В этом кратком сообщении о конференции мы умышленно не стали перечислять подробности каждого доклада и представлять докладчиков. Программа конференции приведена ниже. В ней перечислены имена докладчиков и темы докладов. Как обычно, участники конференции получат по почте все презентации, аудиозапись этого мероприятия и фотографии. На этот раз мы постараемся выложить и видеозапись конференции. Те, кто не смог принять участие в нашем форуме, для приобретения презентаций могут обратиться в нашу компанию к Гуле Фаттаховой по тел. +7 (495) 741-7701, эл. почта: conf@elcp.ru. Программа конференции
Читайте также: Источник: «Электронные компоненты» Комментарии0 / 0
0 / 0
|
![]() Комментарии читателейHuawei начала производство 5-нанометровых процессоров [1] Ирландцы прижучили Apple, Samsung и LG Display после двух лет уговоров [1] Авторы закона о "суверенном Интернете" предлагают обязать идентифицировать всех пользователей e-mail [1] «Феникс Контакт РУС» и «Сколково» заключили партнерское соглашение в области энергоэффективности [1] Горячие темы |
||||||||||
|
||||||||||||
![]() |
![]() |
|||||||||||
|
|