 |
|
||||||||||||
|
||||||||||||
Это интересно!Новости
РанееФорум SEMICON Russia достиг своего пикаС 13 по 15 мая 2014 г. в Москве прошел крупнейший международный Форум SEMICON Russia 2014, посвященный развитию полупроводниковой и микроэлектронной промышленности в России. Пять мифов об облакахКогда на рынок выводятся новые продукты и технологии, клиенты, как правило, скептически их воспринимают и не верят на слово рекламе, в которой обычно используются превосходные степени: "самые быстрые", "самые эффективные", "экономичные" и проч. Так было со многими продуктами, так же происходит и с облаками. Миллиарды для смарт-оружияВ России пытаются излечить немощь электроники. СсылкиРекламаПо вопросам размещения рекламы обращайтесь в Реклама наших партнеров |
18 июня II-я Всероссийская конференция «Тестирование и испытание изделий электронной техники»Конференция, организованная нашей медиагруппой «Электроника», прошла в 5 июня Москве.К
ак и первая конференция, состоявшаяся год назад, нынешняя вызвала живой интерес. В прошлом году в программе преобладали доклады, посвященные граничному сканированию, многие доклады касались технологий JTAG.
На этот раз акцент был сделан на входной контроль. Учли мы и специфику отечественного рынка электроники – в программе конференции нашлось место для двух докладов компании ОАО «Российские космические системы», а также докладу об испытании на радиационную стойкость. Однако и о JTAG мы не забыли. Два последних доклада сделали представители этой компании.
Если очень кратко подвести итоги конференции, то, пожалуй, их можно выразить следующим образом: «Контроль, контроль и еще раз контроль на всех стадиях производственного процесса». Не существуют компонентов со 100-% надежностью, следовательно, невозможно изготавливать конечные изделия со 100-% качеством, без брака. Важно уметь вовремя обнаружить брак, чтобы он не распространился дальше по конвейеру.
И методов обнаружения брака в настоящее время немало, начиная с определения ненормируемых производителем параметров, например паразитных входных емкостей или падения напряжения на защитных входных диодах микросхемы, и заканчивая термоциклированием и форсированными испытаниями.
В докладах говорилось и об аппаратных средствах испытаний изделий. В этом отношении к услугам производителей немало интересного – от уже привычных летающих иголок до функциональных тестеров электронных компонентов и от электромеханических реле и моточных компонентов до сложных микросхем (ПЛИС и микроконтроллеров).
И наконец, JTAG. Поскольку технологии граничного сканирования прочно вошли в повседневную жизнь, доклады о новинках этого направления всегда актуальны. На этот раз помимо доклада о возможностях технологии был проведен небольшой мастер-класс по работе в бесплатной программе JTAG Live Buzz. В этом кратком сообщении о конференции мы умышленно не стали перечислять подробности каждого доклада и представлять докладчиков. Программа конференции приведена ниже. В ней перечислены имена докладчиков и темы докладов. Как обычно, участники конференции получат по почте все презентации, аудиозапись этого мероприятия и фотографии. На этот раз мы постараемся выложить и видеозапись конференции. Те, кто не смог принять участие в нашем форуме, для приобретения презентаций могут обратиться в нашу компанию к Гуле Фаттаховой по тел. +7 (495) 741-7701, эл. почта: conf@elcp.ru. Программа конференции
Читайте также: Источник: «Электронные компоненты» Комментарии0 / 0
0 / 0
|
  Комментарии читателей«Тесла Групп» возрождает бренды Rover Computers [1] Гигантский космический рекламный дисплей от сколковского стартапа угрожает мировой науке [1] Российская робототехническая отрасль в 500 раз меньше мировой, но не унывает [1] Mail.ru готовит «убийцу "Алисы"» в «лице» голосового помощника «Маруси» с умной колонкой [1] Горячие темы |
||||||||||
|
|
||||||||||||
|
|
|||||||||||
| |
|
|||||||||||
