Компания Oxford Instruments предлагает ручной рентгеновский флуоресцентный (XRF) анализатор X MET5000 для выявления в компонентах наличия Pb, Hg, Cd, Cr6+ и PBB & PBDE, запрещенных директивой RoHS.
В анализаторе используется технология детектирования PentaFET® для быстрого анализа с минимальными ограничениями практически любых элементов.
Анализатор предназначен для неразрушающего контроля в точках и по поверхности пластмасс, печатных плат, кабелей, пластмассовых корпусов, припоев, крепежа, листового металла, электронных компонентов.
X MET5000 может быть использован для выявления в компонентах Pb, Hg, Cd, Cr6+ и PBB & PBDE (Br компаунды), запрещенных директивой RoHS. Прибор удовлетворяет требованиям стандарта IEC Method 62321 по эффективности выявления запрещенных материалов.
The X-MET5000 в течение нескольких секунд может выявлять PVC и Br или Sb содержащие пластмассы и быть полезным при переработке отходов по нормативам Waste Electrical and Electronic Equipment (WEEE).
Программное обеспечение позволяет с высокой точность разделять контролируемые объекты по критерию «годен-брак» (Go/No-Go) и автоматически выбирать наилучший метод анализа в зависимости от типа материала.
Дополнительная информация здесь
