Вход |  Регистрация
 
 
Время электроники Среда, 7 декабря
 
  Заявка на участие
 

Конференция «Тестирование и испытание изделий электронной техники»



6 июня в Москве медиагруппа «Электроника» приглашает Вас принять участие в мероприятия для разработчиков и производителей электронной аппаратуры, тест-инженеров, проектировщиков, производителей и поставщиков тестового и испытательного оборудования.

В России конференция проводится впервые! Необходимость проведения конференции обусловлена несколькими факторами:

—  Несоответствие используемых малоэффективных методик проведения тестирования на предприятиях электроники современным нормам;

—  Отсутствие информации и квалифицированного персонала – тест-инженеров;

—  Появление современных тестовых методов и решений, которые позволяют решить многие серьезные проблемы, такие как улучшение качества и надежности, упрощение ремонта, и могут стать мощнейшим инструментом повышения эффективности производства.

На конференции у Вас будет возможность ознакомиться с основными тенденциями в применении инструментов тестирования, эффективными методами и технологиями тестирования электронных схем и оптимизации производственных процессов. В организации конференции участвуют ведущие иностранные производители тестового оборудования. .

Предварительная программа конференции

09:00 – 10:00          Регистрация участников.

10:00 – 11:30          Пленарная часть

§  Структурное тестирование печатных плат (отдельно плат и плат в сборе)

     —  JTAG-тест: новые вызовы и пути их решения. Грядущие стандарты JTAG. Алексей Иванов, JTAG Technologies

    —  Применение JTAG Boundary scan на этапе тестирования опытных образцов. Максим Комков, иженер-схемотехник компании Promwad

    —  Возможности технологий внутрисхемного тестирования. Специальные проверки и их целесообразность. Николай Клюквин, Предприятие Остек

    —  Опыт тестирования ПП бортового электрооборудования самолета Superjet 100. Александр Курицкий, доцент  кафедры электротехники, Самарский Государственный Аэрокосмический Университет

13:00 – 14:00          Обед

§   Тестопригодное проектирование

    —  Тестопригодная разработка для JTAG-теста: практические примеры. Гиви Чхутиашвили, JTAG Technologies

    —  Анализ тестового покрытия ПП по CAD-данным. Александр Курицкий, доцент кафедры электротехники, СГАУ

§   Функциональное тестирование готовых изделий

    —  Диагностирование, обслуживание и ремонт авиационного оборудования с использованием унифицированной НАСК (на примере навигационного и связного оборудования), Юрий Козлов, инженер-конструктор, БЕТА ИР

    —  Автоматизированные системы тестирования современной электроники. Денис Виноградов, региональный представитель, National Instruments

    —  Разработка графического интерфейса для проверки телефонного узла на языке Python в среде ProVision. Наталья Ивченко, тест-инженер Современные беспроводные технологии

§   Методы тестирования и испытаний  при входном контроле

    —  Входной контроль. Особенности. Возможности и новые технологии. Андрей Насонов, начальник отдела оборудования электрического контроля, Остек

    —  Использование технологии периферийного сканирования для входного контроля микросхем ответственного применения. Иван Дергунов, НИИ Точных Приборов

    —  Современные подходы к вибрационным испытаниям: переход от абстракций к реальным данным. Илья Соколов, начальник отдела разработки программного обеспечения, ВИСОМ

     —  Опыт применения модульных технологий и аппаратно-программных средств контроля на предприятиях Роскосмоса и ВПК. Иван Леухин, региональный представитель, National Instruments

18:00 – 21:00          Фуршет

Ждем Вас на конференции!

Участие в мероприятии платное. Предусмотрены  скидки для подписчиков журналов, участников прошлых конференций, рекламодателей ИД «Электроника».

Информацию об условиях участия в конференции и возможности выступления с докладом Вы можете узнать в оргкомитете конференции:
Тел.: (495) 741-7701, доб.2339 – Фаттахова Гуля
E-mail:
 conf@ecomp.ru

 
 
 




Rambler's Top100
Руководителям  |  Разработчикам  |  Производителям  |  Снабженцам
© 2007 - 2016 Издательский дом Электроника
Использование любых бесплатных материалов разрешено, при условии наличия ссылки на сайт «Время электроники».
Создание сайтаFractalla Design | Сделано на CMS DJEM ®
Контакты