Вход |  Регистрация
 
 
Время электроники Четверг, 18 октября
 
 


Это интересно!

Новости


Обзоры, аналитика


Интервью, презентации

Ранее

Выставка Interlight Moscow 2012 и LED-Форум: фоторепортаж

С 6 по 9 ноября в московском «Экспоцентре» прошла крупнейшая международная выставка Interlight Moscow 2012 и VI Московский международный форум «Светодиоды в светотехнике».

Репортаж с Inter Solar North American exhibition: Китай и будущее солнечной энергетики

Торговая война между Китаем и США негативно влияет не только на китайских и американских производителей, дебаты Обамы и Ромни, но и на глобальную солнечную энергетику.

MADE IN RUSSIA: тестер микросхем FT-17HF

Разработка современных тестовых систем для контроля качества изделий микроэлектроники являлась для ООО «Совтест АТЕ» одной из важнейших задач на протяжении последних нескольких лет. Для реализации данной цели специалисты компании использовали не только собственный опыт, накопленный в течение 20 лет работы (с момента своего основания в 1991 г. ООО «Совтест АТЕ» специализируется именно на тестовых технологиях), но также опыт зарубежных и российских коллег. В результате на международной выставке «Экспоэлектроника-2012» состоялась презентация нового изделия под брендом «Совтест АТЕ» — тестовой системы FT-17HF для контроля параметров микросхем широкой номенклатуры.

Реклама

По вопросам размещения рекламы обращайтесь в отдел рекламы

Реклама наших партнеров

 

13 ноября

Стандарты испытаний на электростатический разряд

Электростатический разряд (еlectrostatic discharge, ESD) определяют как «внезапное, кратковременное протекание электрического тока между двумя объектами с различными электрическими потенциалами». ESD вызывает отказы оборудования и простои и ежегодно приводит к производственным потерям в несколько миллиардов долларов. Каждый производитель электроники, от портативной бытовой техники, систем промышленной автоматизации и управления технологическими процессами до военных и аэрокосмических приложений, должен учитывать ESD при разработке оборудования.

Статья опубликована в журнале "Электронные компоненты" №11 за 2012 год.

Купить доступ к материалу

Оцените материал:

Автор: ДУАЙТ БЕРД (DWIGHT BYRD), инженер, Texas Instruments; ТОМАС КУГЕЛЬШТАДТ (THOMAS KUGELSTADT), специалист по применению, Texas Instruments



Комментарии

0 / 0
0 / 0

Прокомментировать





 

 
 




Rambler's Top100
Руководителям  |  Разработчикам  |  Производителям  |  Снабженцам
© 2007 - 2018 Издательский дом Электроника
Использование любых бесплатных материалов разрешено, при условии наличия ссылки на сайт «Время электроники».
Создание сайтаFractalla Design | Сделано на CMS DJEM ®
Контакты